MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪是科电公司的新型产品。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到同类仪器的良好水平。

MC-2010A涂（镀）层测厚仪是旺徐公司技术的结晶。涂层测厚仪采用单片机技术，测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗干扰能力，求值更稳定；且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已达到当代同类仪器的良好水平

MC-2000D涂层测厚仪测量范围：10～9000um，它是技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代同类仪器的良好水平。

MC-2000C涂层测厚仪测量范围：0～5000um，是技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代同类仪器的良好水平。

MC-2000A涂层测厚仪测量范围：0～1200um，是技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准，其性能达到当代同类仪器的良好水平。